梅特勒XPE分析天平

梅特勒-托利多推出新超越系列XPE新一代分析天平，將實(shí)驗室稱(chēng)量帶到了一個(gè)嶄新的高度！

1、*的天平狀態(tài)指示燈功能，讓天平稱(chēng)量變得智能化；
2、RFID射頻識別技術(shù)，可與移液器等其他實(shí)驗室快速無(wú)線(xiàn)通訊；
3、的防靜電技術(shù)，確保稱(chēng)量的準確性； 
4、帶紅外感應器，無(wú)需接觸天平，只要揮揮手就能實(shí)現開(kāi)關(guān)門(mén)、打印、去皮等操作； 
5、高分辨率后置傳感器，內置兩組校正砝碼。

梅特勒XPE分析天平將稱(chēng)量與眾多智能特性相結合，讓您的日常稱(chēng)量任務(wù)變得準確無(wú)誤。您不僅可以體驗到新超越系列分析天平提供的稱(chēng)量性能，更可以確保全面的法規*性，以及至高的過(guò)程安全性。

儀器無(wú)憂(yōu)——我明白稱(chēng)量很安全！

梅特勒XPE分析天平是全新智能安全工具可監控天平的狀態(tài)，以確保安全地開(kāi)始稱(chēng)量任務(wù)。創(chuàng )新的狀態(tài)指示燈(StatusLight)讓您只需看一眼即可了解稱(chēng)量是否開(kāi)啟綠燈：執行了的天平校準和日常測試，天平處于水平狀態(tài)且性能正常。

樣品無(wú)憂(yōu)——再也不受靜電問(wèn)題困擾！

靜電是分析稱(chēng)量過(guò)程面臨的主要挑戰。正常操作時(shí)，容器和樣品很容易吸附靜電荷，從而導致稱(chēng)量誤差。電荷也可使粉末狀顆粒飄散，這在處理昂貴或有毒物質(zhì)時(shí)容易造成額外的問(wèn)題。新超越系列天平的智能靜電檢測和去靜電解決方案可避免稱(chēng)量誤差，并使樣品處理更加簡(jiǎn)單安全。

過(guò)程無(wú)憂(yōu)——減少錯誤的又一里程碑！

梅特勒-托利多的LabX軟件可顯著(zhù)提升實(shí)驗室的影響力，是保證過(guò)程安全性和管理稱(chēng)量不確定性的*解決方案。LabX在提供基于天平觸摸屏的靈活的SOP用戶(hù)向導方面*。自動(dòng)數據處理、計算和生成報告意味著(zhù)再也不需要通過(guò)手工記錄，避免了抄錄誤差并確保了*可追溯性。新超越系列天平輕松地滿(mǎn)足至高過(guò)程安全要求，并幫助您建立無(wú)紙化實(shí)驗室。

狀態(tài)指示燈

狀態(tài)指示燈清晰地顯示天平是否已準備好開(kāi)始稱(chēng)量任務(wù)。綠色表示天平準備運行，黃色表示天平通過(guò)TestManager連接至日常測試，紅色表示對天平失去平衡等錯誤立即采取糾正措施。

使用天平觸摸屏，可在Test-Manager嵌入式軟件中進(jìn)行SOP測試。無(wú)論何時(shí)進(jìn)行測試，都會(huì )在屏幕上顯示消息，您只需遵循隨附的測試說(shuō)明即可。

*稱(chēng)量結果

除了稱(chēng)量舒適度外，獲得的測量技術(shù)還在發(fā)揮著(zhù)幕后作用，為您提供zui高的分辨率、zui為快速和zui可靠的結果以及zui低的zui小稱(chēng)量值（僅14mg）！

良好的稱(chēng)量規范

清潔、安全

SmartGrid網(wǎng)格稱(chēng)盤(pán)：所有溢出的樣品都可通過(guò)秤盤(pán)落下，而不會(huì )影響您的稱(chēng)量結果，下方的滴盤(pán)可輕松地捕獲溢漏的任何固體和液體，以便安全處理。

防風(fēng)罩：zui大限度降低樣品污染風(fēng)險：防風(fēng)罩和滴盤(pán)無(wú)需工具即可在數秒鐘內*拆卸。
可在洗碗機中安全清洗：所有部件均可在洗碗機中方便、*地清潔。

梅特勒XPE分析天平技術(shù)參數

zui大量程為520g，可讀性為0.005mg/0.1mg