產(chǎn)品時(shí)間:2022-06-09
對于管理基板整面上的有害物質(zhì),以及針對微小部位的測定等以前的裝置對應比較困難的要求,EA6000VX X射線(xiàn)熒光光譜儀都能做到。
EA6000VX X射線(xiàn)熒光光譜儀產(chǎn)品特點(diǎn):
1.快速掃描
憑借zui大150萬(wàn)CPS的高計數率檢測器完成高靈敏度的測量,以及借助zui大250 mm×200 mm范圍掃描的快速電動(dòng)樣品臺,實(shí)現快速掃描測量。對于范圍為100 mm×100 mm的情況,可在2~3分鐘內檢測出端子部分的鉛并確定其位置。
2. 連續多點(diǎn)測量
zui多可500個(gè)測量位置進(jìn)行連續多點(diǎn)測量。由于采用自動(dòng)測量方式,因此在測量大量樣品是,也可發(fā)揮高效率。
3. 高精密重合
通過(guò)ecentric Lens 系統和高速?高精度XY平臺,將元素掃描像和光學(xué)成像進(jìn)行重合對微小部品的中心部分的目標元素也能進(jìn)行簡(jiǎn)單觀(guān)察。zui大250 mm×200 mm上方觀(guān)察,并且能夠實(shí)現廣域位置zui小誤差為100 µm以?xún)鹊亩ㄎ弧?/span>
4. 微小部位測量
在FT系列中被*的測量鍍膜膜厚儀器就是由EA6000VX。不用說(shuō)極薄的鍍金等膜厚測量,即便是在進(jìn)行鍍膜鐘所含的Pb等有害物質(zhì)分析的膜壓測量的同時(shí)也可進(jìn)行膜厚測量。比如也可進(jìn)行無(wú)鉛焊錫鍍層及引線(xiàn)框架上Sn鍍層,無(wú)電解Ni鍍膜中所含的有害物質(zhì)的濃度測量。
5. 環(huán)境中限制物的測量
RoHS等限制物的高靈敏度測量,短時(shí)間內測出樹(shù)脂、金屬等中含有的微量環(huán)境限制物。對復合樣品也可專(zhuān)注到特定部位進(jìn)行測量。
6. 輕元素測量
通過(guò)安裝充氦選購項,可以分析鈉開(kāi)始的輕元素。測量中能夠立運轉的氦氣系統。將使用成本zui大化降低。
7. 透視掃描機能
筆記本、手機等不能透過(guò)外包裝看到內部構造的產(chǎn)品,無(wú)需拆解就可得到不僅僅是基板上的Pb,甚至其他各種元素的掃描圖。通過(guò)比較X射線(xiàn)照射后得到的元素掃描圖像,可以了解關(guān)于產(chǎn)品內部部件構造的各種情報。
8. 異物檢測EA6000VX
EA6000VX通過(guò)快速掃描功能可以在幾分中內檢測出寬廣范圍(zui大250 mm×200 mm)內含有的幾十 µm的微小金屬異物,并查明其具體位置。也可檢測出樹(shù)脂等有機物內部還有的微小、微量金屬異物。
9. 安全、安心的操作性
自動(dòng)接近、防止沖撞功能 操作臺上樣品一旦設定好啟動(dòng)后,自動(dòng)測量出樣品的zui大高度,移動(dòng)到的測量高度。即便是復雜形狀的樣品,操作員也可輕松測量。另外,即便通過(guò)操作指南調整了測量高度,由于安裝了防止沖撞傳感器,因此不會(huì )使樣品受到損傷。
EA6000VX X射線(xiàn)熒光光譜儀技術(shù)參數:
測量元素 | 原子序號Na(11)~U(92) |
樣品形狀 | 液體、粉體、固體 |
X射線(xiàn)源 | 小型空冷室X射線(xiàn)管(Rh或W靶) |
X射線(xiàn)照射方向 | 上方垂直照射型 |
檢測器 | Vortex(SSD檢測器) *(無(wú)需液氮) |
分析區域 | 0.2, 0.5, 1.2, 3.0 mm□(自動(dòng)切換) |
樣品觀(guān)察 | 高分辨率CCD攝像頭2系統 |
濾波器 | 6種模式電動(dòng)切換 |
zui大樣品尺寸 | 250(W)×200(D)×150(H) mm |
儀器尺寸 | 750(W)×740(D)×783(H) mm *電器箱另置 |
重量 | 160kg |
電源/額定功率 | AC100~240 V(50/60Hz)/400 VA |
自動(dòng)進(jìn)樣器 | 連續多點(diǎn)測量功能 |
EA6000VX X射線(xiàn)熒光光譜儀
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