梅特勒XP超越系列分析天平是分析天平領(lǐng)域中的又一里程碑。顛覆性的創(chuàng )新設計帶來(lái)了*的稱(chēng)量性能并為操作者、樣品稱(chēng)量和數據管理的安全性設立了新的標準。
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